简要介绍：

　　用测试夹卡住被测数字IC，GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码，再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比，即可发现功能失效的故障器件。
　　直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码，便于迅速缩小电路板故障范围。

详细资料
价格：43000.00

 商品型号：

T3000

 商品名称：

在线维修测试仪

 生产厂商：

   英国Polar

 简要介绍：

 在不通电前题下，对模拟数字电路板进行快速、高效益的故障检修.

＊即使是新学者，也容易学会操作。
＊适合于所有型式电子部件（含元、器件）的检测 维修。
＊能检修没有线路图的电路板。
＊提供自动比较的功能（与性能良好的部件比较）， 自动判别部件的
  好与坏。
＊自动显示故障点，用 pass/fail指示.

详细资料
价格：

 商品型号：

2700S

 商品名称：

PCB板故障检测仪

 生产厂商：

 
简要介绍：


· 信号图像和功能菜单表显示在彩色LCD显示器上
· 使用Huntron特有的Tracker Signature Analysis技术
· Huntron SigAssist?也可在显示器上显示
· 测试低电压逻辑电路，可避免超出元器件的额定电压
· 适用于桌面或现场检修

详细资料
价格：

 商品型号：

2700

 商品名称：

PCB板故障检测仪

 生产厂商：

   美国 huntron

 
简要介绍：


· 信号图像和功能菜单显示在彩色LCD显示器上
· 使用Huntron特有的Tracker Signature Analysis技术
· Huntron SigAssist?也可在显示器上显示
· 通过用每个频道扫描对比40个引脚扫描和对比来提高检修速度
· 适用于桌面或现场检修

详细资料
价格：43000.00

 商品型号：

4000

 商品名称：

PCB板故障检测仪

 生产厂商：

美国 huntron

 
简要介绍：


＊测试范围广的先进故障检测技术
＊CRT双重信号轨迹显示，可快速地对元器件进行比较
＊Huntron特有的STAR特点可通过设置测试参数来控制通过IC的电
    流不超过额定电流,以防止它的损坏

详细资料
价格：15800.00

 商品型号：

ChipMaster

 商品名称：

ABI手持式数字IC测试器

 生产厂商：

英国ABI

 
简要介绍：
   
      广泛应用于数字式IC的功能测试,可扩充的内装芯片,几乎囊括所有
  40脚以下的数字芯片,包括 TTL、CMOS、存储器、接口和 LSI 系列。
  使用、操作简便、输入IC型号,按测试键,测试结果即显示在LCD显示屏上

详细资料
价格：19800.00

 商品型号：

LinearMaster

 商品名称：

   ABI手持式线性IC测试器

 生产厂商：

   英国ABI

 
简要介绍：
      
       手持式IC测试仪，广泛应用于模拟IC设备的功能测试，可测试16
   脚以内通用的模拟器件，包括比较器、光耦、稳压器和操作放大器。
   通过在膜片键盘上直接输入设备编号，即可进行设备测试。
   键入型号即可测试，测试结果显示在LCD显示屏上

详细资料
价格：3300.00

 商品型号：

ICT-33C

 商品名称：

   集成电路测试仪

 生产厂商：

   北京金三航科技

 简要介绍：

*好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏
*型号识别：当不知被测器件型号，仪器可依据逻辑功能来判断其型
*老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可进行连续老化测试
*代换查询：可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号
*内部RAM数据填充、复制、查找、修改
*EPROM、EEPROM串并EEPROM、MPU、FLASH ROM 器件读写
*微机通讯接口，网上下载测试元件库升级

详细资料
价格：1980.00

 商品型号：

LP-1

 商品名称：

   数字集成电路测试仪

 生产厂商：

   台湾力浦

 简要介绍：

*为测试数字 IC而设计
*可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
*轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
*设有empty-load测试及自动电源开关装置
*平均测试时间：0.8秒

详细资料
价格：5500.00

 商品型号：

LP-2

 商品名称：

   线性集成电路测试仪

 生产厂商：

   台湾力浦

 简要介绍：

*为测试线性 IC而设计
*轻小可携带、操作容易，可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使
 用1000小时
*平均测试时间：0.8秒
*设有empty-load测试及设有自动电源开关装置
*可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、
 Comparattors、REG、N555 Series、Transistor Array

  简要介绍：

 目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!

simi100数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼！

  简要介绍：

   SIMI3198测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。

  简要介绍：

 目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!

simi100数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼！

  简要介绍：

   SIMI3198测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。